薄膜應力測量儀基于經(jīng)典基片彎曲法Stoney公式測量原理，采用控制技術(shù)和傻瓜化的操作，使得FST1000薄膜應力測量儀特別適合于要求快速測量常規(guī)薄膜殘余應力。薄膜應力測量儀源自中科院金屬研究所和深圳職業(yè)技術(shù)學院相關(guān)研究成果轉(zhuǎn)化！ 薄膜應力測量儀,應力儀

歐屹科技，是以激光、光電儀器、電子封裝設(shè)備為核心業(yè)務的專業(yè)代理經(jīng)銷商和服務商，歐屹科技以多年的行業(yè)經(jīng)驗，
為客戶引進國內(nèi)外先進的激光器、光電器件、光電儀器、光電系統(tǒng)、電子封裝設(shè)備等高精尖儀器設(shè)備
其中高功率半導體激光器，微光學透鏡，劃片機，
應力雙折射測試儀尤其受到客戶的贊許。
另外，歐屹科技以專業(yè)的技術(shù)支持和售后服務；豐富國際貿(mào)易經(jīng)驗為廣大用戶提供廣泛的支持，
我們正盡最大努力把歐屹科技建設(shè)成為值得您信賴的公司

薄膜應力測量儀,應力儀薄膜應力測量儀
based on classic Stoney formula principle, advanced control technologyand smart operationmake the FST1000 film stress tester particularly suit-able for measurement in fast characterization of film residual stress.
基于經(jīng)典基片彎曲法Stoney公式測量原理，采用控制技術(shù)和傻瓜化的操作，使得FST1000薄膜應量儀特別適合于要求快速測量常規(guī)薄膜殘余應力。薄膜應力測量儀源自中科院金屬研究所和深圳職業(yè)技術(shù)學院相關(guān)研究成果轉(zhuǎn)化！：CN204854624U；CN203688116U；CN100465615C

薄膜應力測量儀產(chǎn)品規(guī)格：

技術(shù)規(guī)格	參數(shù)
基本原理	曲率法Stoney公式
薄膜應力測試范圍	5 MPa～50GPa
曲率半徑測試范圍	0.3～ 20 m
薄膜應力計算誤差	＜±2%
曲率半徑測試誤差	＜±1%
測試平臺行程	X方向：100 mm / Y方向：50 mm
樣品尺寸	長方形樣品
樣品定位	自動定位原點
樣品校正	可計算校正原始表面不平直影響（對減模式）
主要功能	自動測量采集計算曲率半徑和薄膜應力
電源電壓	220 VAC電源適配器
電源功耗	280 Watts Maximum
通訊連接端口	USB 2.0
工作溫度	0～50 oC
操作軟件	視窗界面/適用于Windows XP/Windows 7系統(tǒng)
操作電腦	用戶自備或選配
外形尺寸	50×39×34cm
重量	～ 40K g
質(zhì)量保證	一 一年/終身維護
備注	以上所列技術(shù)規(guī)格與參數(shù)更新恕不另行通知，如有疑問請聯(lián)系我們

 

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