產品簡介
雙折射測量儀PA-300是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其專利技術的光子晶體偏光陣列片，獨有的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業內，特別是工業界雙折射測量/應
公司簡介
歐屹科技，是以激光、光電儀器、電子封裝設備為核心業務的專業代理經銷商和服務商，歐屹科技以多年的行業經驗，
為客戶引進國內外先進的激光器、光電器件、光電儀器、光電系統、電子封裝設備等高精尖儀器設備
其中高功率半導體激光器，微光學透鏡，劃片機，
應力雙折射測試儀尤其受到客戶的贊許。
另外，歐屹科技以專業的技術支持和售后服務；豐富國際貿易經驗為廣大用戶提供廣泛的支持，
我們正盡最大努力把歐屹科技建設成為值得您信賴的公司
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產品說明
PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其專利技術的光子晶體偏光陣列片，獨有的雙折射算法設計制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業內，特別是工業界雙折射測量/應力測量的第一選擇。
雙折射測量儀PA-300主要特點：
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操作簡單，測量速度可以快到3秒。
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視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。
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更直觀的全面讀取數據，無遺漏數據點。
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具有多種分析功能和測量結果的比較。
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維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。
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高達2056x2464像素的偏振相機。
雙折射測量儀PA-300應用領域：
雙折射測量儀PA-300技術參數：
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項次
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項目
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具體參數
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1
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輸出項目
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相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應力換算（選配）【MPa】
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2
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測量波長
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520nm
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3
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雙折射測量范圍
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0-130nm
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4
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測量最小分辨率
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0.001nm
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5
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測量重復精度
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<1nm（西格瑪）
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6
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視野尺寸
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27x36mm到99x132mm（標準）
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7
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選配鏡頭視野
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低至7x8.4（擴束鏡頭）
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8
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選配功能
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實時解析軟件，鏡片解析軟件，數據處理軟件，實現外部控制
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測量案例：
本頁產品地址：http://m.lgsztm.com/sell/show-6960816.html
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