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價格：電議
所在地：江蘇 無錫市
型號：SE-RD-STD系列
更新時間：2024-08-13
瀏覽次數：690
公司地址：無錫惠山區清研路3號華清創智園8號樓A棟創業大廈201室'
小王(女士)
全光譜橢偏儀——
● 桌上型膜厚量測設備
● 安裝移動迅速便捷
● 適用于所有非金屬膜質
● 多樣化的應用選擇
● 工業標準數據端口
全光譜橢偏儀——
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規格 |
技術指標 |
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襯底類型 |
透明或半透明襯底 |
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光源 |
氙燈 |
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光源壽命 |
>8760H |
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光譜范圍 |
300-1000nm |
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入射角 |
70度（40度-90度 每5度可調） |
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光斑直徑 |
100 |
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測量時間（不對焦） |
<2S(單層模型),<約6s（多層模型） |
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膜厚測量范圍（單層膜） |
1nm-15μm |
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對焦 |
自動訊號對焦 |
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膜厚測量精度 |
<0.5nm(基于標片) |
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折射率測量精度 |
<0.005(基于標片) |
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厚度重復性精度： |
<0.5A（1 sigma 標準差,10times）（基于標準片） |
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折射率重復性精度： |
<0.0005（1 sigma標準差,10times）（基于標準片） |
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可測試膜層數量 |
≥2層 |
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標片數量 |
2片 |
免責聲明：以上所展示的[SE-RD-STD系列 全光譜橢偏儀]信息由會員[無錫浩輝者新材料科技有限公司]自行提供，內容的真實性、準確性和合法性由發布會員負責。
