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價格：電議
所在地：上海
型號：
更新時間：2023-12-29
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公司地址：上海-閔行區-劍川路955號1108室
胡安(先生)
BeamAnalyzer 刀口式光束質量分析儀
Duma Optro
BeamAnalyzer 刀口式光束質量分析儀采用獨特的專利技術在不同的交又角和不同的交又面對光束空間強度進行斷層重建從而測量光束質量。提供了高分辨率光束直徑和剖面測量，并能夠顯示光束功率分布的二維和三維視圖。
產品特點：
·刀口光束質量分析系統
·層析成像重建算法
·光束測量范圍3微米至9毫米
·準確測量輪廓，位置和功率
·多種探測器類型，波長覆蓋從深紫外到近紅外
BeamAnalyzer 刀口式光束質量分析儀
產品應用：
·實時測量光束尺寸和高斯擬合(或平頂光束)
·實時繪制光束的二維/三維視圖
·激光器的光束質量分析
·激光束分析:輪廓、光束尺寸、位置、功率
型號參數：
傳感器類型
Si/UV-Si/IR/IRE
光譜范圍
Si
UV-Si
IR
IRE
350-1100nm
190-1100nm
800-1800nm
1200-2700nm
刀片數
3（BA3頭）
7（BA7頭）
光束尺寸范圍
BA3-Si和BA3-UV
BA7-Si和BA7-UV(橢圓形)
BA7-Si和BA7-UV（圓形）
BA3-IR3和BA3-IR3-E
BA7-IR3和BA7-IR3-E
BA3-IR5
BA7-IR5
3μm-5mm
15μm-10mm
15μm-9mm
3μm-3mm
15μm-3mm
3μm-5mm
15μm-5mm
光束寬度分辨率
>100μm
<100μm
1μm
0.1μm
光束寬度精確度
±2%
功率范圍
Si和UV-Si探頭
InGaAs探頭
10μW-1W(有衰減片)
10μW-5mW(無衰減片)
功率精確度
Si和UV-Si探頭
InGaAs探頭
±5%
±10%
功率分辨率
0.1μW
位置精確度
±15μm
位置分辨率
1μm
飽和度
Si和UV-Si探頭
0.1W/cm2(無衰減片)，20W/cm2(NG9)
測量速率
5Hz
溫度
0℃-35℃
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