產(chǎn)品簡介
美國Sinton WCT-120少子壽命測試儀采用了準(zhǔn)穩(wěn)定態(tài)光電導(dǎo)(QSSPC)測量方法和分析技術(shù)。
公司簡介
公司主要是美國Sinton公司的中國總代理，光伏半導(dǎo)體測試儀器 WCT-120少子壽命測試儀
檢測原始硅片的性能
測試過程硅片的重金屬污染狀況
評價表面鈍化和發(fā)射極擴散摻雜的好壞 幫助光伏研究人員加有效的研發(fā)
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產(chǎn)品說明
美國Sinton WCT-120少子壽命測試儀器采用了獨特的測量和分析技術(shù)，包括類似平穩(wěn)狀態(tài)photoconductance (QSSPC)測量方法。可靈敏地反映單晶體重金屬污染及陷阱效應(yīng)表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況。WCT一個高度被看待的研究和過程工具。QSSPC終身測量也產(chǎn)生含蓄的打開電路電壓(對照明)曲線，與最后的I-V曲線是可比較的在一個太陽能電池過程的每個階段。
其它應(yīng)用：
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檢測原始硅片的性能
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測試過程硅片的重金屬污染狀況
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評價表面鈍化和發(fā)射極擴散摻雜的好壞
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用得到的類似IV的開壓曲線來評價生產(chǎn)過程中由生產(chǎn)環(huán)節(jié)造成的漏電。
主要特點：
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只要輕輕一點就能實現(xiàn)硅片的關(guān)鍵性能測試，包括表面電阻，少子壽命，陷阱密度，發(fā)射極飽和電流密度和隱含電壓。
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測量原理：QSSPC（準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)）；
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少子壽命測量范圍：100 ns-10 ms；
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測試模式：QSSPC，瞬態(tài)，壽命歸一化分析；
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電阻率測量范圍：3–600 (undoped) Ohms/sq.；
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注入范圍：1013-1016cm-3；
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感測器范圍：直徑40-mm；
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測量樣品規(guī)格：標(biāo)準(zhǔn)直徑: 40–210 mm （或更小尺寸）；
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硅片厚度范圍：10–2000 μm；
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外界環(huán)境溫度：20°C–25°C；
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功率要求：測試儀： 40 W ， 電腦控制器：200W ，光源：60W；
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通用電源電壓：100–240 VAC 50/60 Hz；
本頁產(chǎn)品地址：http://m.lgsztm.com/sell/show-9144280.html
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