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BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀

北京精科智創科技發展有限公司
會員指數: 企業認證:         

價格:電議

所在地:北京

型號:

手機:18210063398

電話:010-60414386

更新時間:2024-09-18

瀏覽次數:5433

公司地址:北京順義北小營

18210063398   謝經理(先生)   (來電時請說是從給覽網看到我的)

產品簡介

BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀是我國熱電材料的領軍設備,是材料計劃中前沿裝備,其測試性能遠超越外熱電材料測試儀,不僅可以用于塊體材料同時也可以用于薄材料的測試,是目前高等院校和材料研究所的重要設備。

公司簡介

北京精科智創科技發展有限公司是一家主要是從事精密儀器設備,我們同中國科學院,北京科技大學,清華大學,上海交通大學,北京航空航天大學等建立了合作和研究中心,目前我們主要在安全控制設備,計量檢測設備,科學材料研究設備,3D打印及空間技術的研發和銷售,我們將同國內的科研機構和高等院校進行更加廣泛的合作,服務于國內和國外廣大客戶,我們將提供優質產品,優質服務,共同開拓進取。

我們為你提供材料表征測量的一系列產品:

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一表征:壓電材料d33測量儀
1、ZJ-3型壓電測量儀

2、ZJ-4型d33測量儀

3、ZJ-5型積層壓電測試儀

4、ZJ-6型靜壓電d33/d31/d15測量儀

5、ZJ-7型高溫壓電測試儀

★壓電極化裝置

1、PZT-JH10/4壓電極化裝置(10KV以下壓電陶瓷同時極化1-4片)

2、PZT-JH10/8壓電極化裝置(10KV以下壓電陶瓷同時極化1-8片)

3、PZT-JH20/8高壓電極化裝置(20KV以下壓電陶瓷同時極化1-8片)

4、PZT-FJH20  /3高壓真空,空氣極化裝置(20KV以下壓電陶瓷及壓電薄膜1-3片試樣)

★ 壓電制樣裝置

1、ZJ-D33-YP15壓電陶瓷壓片機(壓力范圍: 0--15T,0-24T,0-30T,0-40T2

2、ZJ-D33-SYP30電動型壓電陶瓷壓片機(壓力范圍: 0--15T,0-24T,0-30T,0-40T)

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第二表征 鐵電材料測量系統及電滯回線測量系統

1ZT-4C型綜合鐵電測量系統

2JKZT-10A鐵電材料綜合參數測試儀

3JKGT-G300高溫鐵電材料測量系統

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第三表征 熱電材料分析測量系統及塞貝克系數測試儀

1BKTEM-Dx熱電性能分析系統

2、BKTEM-Dx熱電器件性能分析系統

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第四表征 介電材料測試系統

1、 常溫介電測量系統,常溫介電材料測試儀

2、 高溫介電測量系統,高溫介電材料測試裝置


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第四表征磁性材料測試系統


展開

產品說明


BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀

關鍵詞:熱電材料,Seebeck系數,電導率, 電阻率,V-1裝置

 

產品介紹:

  

 BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀是我國熱電材料的領軍設備,是材料計劃中前沿裝備,其測試性能遠超越外熱電材料測試儀,不僅可以用于塊體材料同時也可以用于薄材料的測試,是目前高等院校和材料研究所的重要設備。

對于熱電材料的研究,熱電性能測試是不可或缺的試驗數據。BKTEM-Dx(x=1,2,3)系列可以地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)及薄膜材料的Seebeck系數及電導率。主要原理和特點如下: 

該裝置由,高靈敏度溫度可控的電阻爐和控制溫度用的微型加熱源構成。通過PID程序控溫,采用四點法的方式測定半導體材料及熱電材料的Seebeck系數及電導率、電阻率。試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。

一、BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀適用范圍:

1、地測定半導體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅、鎳、鎢等金屬,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數及電導率、電阻率。

3、塊體和薄膜材料測均可以測試。

4、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動檢出。

5、擁有自身專利分析軟件,分析,過程自動控制,界面友好。

6、高等院校材料系研究或是熱電材料生產單位。

7、汽車和燃油、能源利用效率、替代能源領域、熱電制冷.
8、很多其他工業和研究領域-每年都會誕生新的應用領域。

二、BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀技術特點:

·解決高溫下溫控精度不準的問題,靜態法測量更加直觀的了解產品熱電材料的真正表征物理屬性。

· 溫度檢測可采用J、K型熱電偶,降低測試成本。

·試樣采用獨特的焊偶機構,保證接觸電阻小以及測量結果的高重現性。

· 每次可測試1-3個樣品.

· 采用數據采集技術,避免電路板數據采集技術帶來的干擾誤差,可控溫場下同步測量賽貝克系數和電阻率。 

三:主要技術:

測量溫度 室溫-600℃
同時測試樣品數量 1個
測量功能 賽貝克系數和電阻率,薄膜材料的Seebeck系數及電導率
控溫精度 0.5K
測量原理 塞貝克系數:靜態直流電;電阻系數:四端法
測量精度 塞貝克系數:<±7%;電阻系數:<±10%
樣品尺寸 塊體方條形:2-3×2-3 mm×10-23mm長,薄膜材料:≥50 nm
熱電偶導距 ≥6 mm 
電   流 0 to 160 mA
氣   氛 高純度氬氣
加熱電相數/電壓 單相,220V,

圖1 單一樣品測試系統原理示意圖

















圖2 雙樣品測試系統原理示意圖


本頁產品地址:http://m.lgsztm.com/sell/show-7132356.html
免責聲明:以上所展示的[ BKTEM-Dx熱電材料性能測試儀]信息由會員[北京精科智創科技發展有限公司]自行提供,內容的真實性、準確性和合法性由發布會員負責。
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