Leitz ORTHOLUX-ⅡPOL BK實驗室研究級透反射偏光顯微鏡

儀器的用途：

ORTHOLUX-Ⅱ POL BK透反射偏光顯微鏡是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校常用的專業實驗儀器。

儀器特點：

透反射偏光顯微鏡ORTHOLUX-Ⅱ POL BK，隨著光學技術的不斷進步，作為光學儀器的偏光顯微鏡，其應用范圍也越來越廣闊，許多行業，如化工的化學纖維，半導體工業以及藥品檢驗等等，也廣泛地使用偏光顯微鏡。ORTHOLUX-Ⅱ POL BK透反射偏光顯微鏡就是非常適用的產品，可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子等附件，是一組具有較完備功能和良好品質的產品。本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。

德國原裝進口偏光顯微鏡費氏臺

技術參數

費氏臺即費德洛夫旋轉臺是研究造巖礦物和構造巖石學的一種儀器

主體：五軸偏轉

配套：

上半球：nD1.554、nD1.516、nD1.649各一個；

下半球：nD1.554、nD1.516、nD1.649各一個；

長焦距物鏡：5×（選購），10×（選購），20×（標配），32×（選購），50×（標配）

長焦距聚光鏡：NA0.35，NA0.60各一個

角度尺一把

石英片一塊
備注：

  費多洛夫一生主要成就是發明了“旋轉臺”。1867年偏光顯微鏡技術運用到巖石學研究中，使巖石礦物鑒定工作上了一個新臺階。但在偏光顯微鏡下鑒定巖石薄片中的礦物時，人們碰到薄片中礦物的非定向位置與鑒定中要求定向的礦物切面之間的矛盾。在偏光顯微鏡的條件下，巖石薄片平面只能在載物臺平面內轉動。因此，要鑒定礦物的光學常數只能*從許多顆粒中選擇定向顆粒的方法。為了選擇完全準確的定向顆粒，常常耗費很多時間，或者由于薄片中根本不存在某種定向顆粒而宣告失敗。在這種情勢下，促使人們嘗試改變偏光顯微鏡的條件。

　　費多洛夫創了一種旋轉臺，使礦物的一個任意切面能在三度空間中圍繞幾個軸而旋轉，以獲得所要求的定向切面，從而解決了偏光顯微鏡下鑒定礦物時不易解決的矛盾。他于1889年提出了旋轉臺法的基本原理。當時他發明的是雙圈反射測角儀，方便了晶體測角的工作。1893年他公布了這個方法，并稱之為“經緯儀法”。這是一種原始的二軸臺（一個直立軸和一個東西方向水平軸），在二軸臺上已經可以找到光軸、光率體主軸和某些結晶方向，以及區別均質體、一軸晶和二軸晶，但是要借助于比較復雜的操作和投影作圖，因此，費多洛夫又將它改進為三軸臺、四軸臺，主要是增加了一個南北方向的水平軸，因而可直接測光率體主軸和光軸，大大簡化了操作步驟。原偏光顯微鏡測定的只能稱為常數的近似值，旋轉臺測定的才能稱為光學常數。

　　旋轉臺能研究復雜的雙晶律，并利用雙晶來鑒定礦物，在其上附加一些裝置還可以地測定礦物主要的光學常數--折光率，所以被稱為“臺”，現仍紀念而命名為“費多洛夫臺”（簡稱“費氏臺”）或“費多洛夫旋轉臺”（簡稱“旋轉臺”）。旋轉臺足以鑒定出某些固溶體系列中的礦物名稱，因而對于巖石成因理論研究及巖組學的建立具有重大的、決定性的意義。