主要性能：光學顯微鏡放大成像，專業攝像頭，速分辨率圖像采集卡，圖像動態快速顯示于電腦，直接觀察粉體顆粒的形貌，專用軟件行粒度分析。平場消色差物鏡，zui大分辨率0.07微米，zui大光學放大倍數1600倍，圖像顯示和打印zui大倍數4000倍(A4幅面)。 

測量范圍： 0.5μm～2000μm 

測量方法： 透射：將樣品置于載玻片上，運行專用軟件，由電腦分析處理，計算數據。 
            反射：將樣品置于物鏡下方，運行專用軟件，由電腦分析處理，計算數據。

分析軟件：提供等面積和等周長兩種基準下的個數、直徑、面積、體積等分布數據。同時提供D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長徑比等數據，配有多種圖像分析和處理能，可以滿足各種圖像處理需要。 

圖像分析處理：
  1.色調處理：負像、灰度化、色調調整、亮度、對比度調整；
  2.圖像矯正：水平鏡像、垂直鏡像、90度（逆時針)、90度(順時針) 、旋轉、放大、縮小、意比例縮放等；
  3.測量單位：微米、毫米、厘米、英吋選；
  4.圖像增強：對比度均衡、膨脹、腐蝕等；
  5.圖像處理：圖像銳化，邊緣平滑，二值化，邊界濾波，分析目標擦除、孔洞填充，手擦除，手連接，粒子屬性查看、設置標尺、網格等能；
  6.分析參數：
  （1）幾何參數：每個顆粒的質心 X、Y 坐標位置，像素；
  （2）當量幾何參數：等面積圓直徑，等周長圓直徑，長徑，短徑，長徑比；
  （3）外接幾何參數：每個顆粒的外接圓直徑；
  （4）光密度參數：圖像 R、G、B、灰度分布；
  （5）形態學參數：長徑比，圓度系數； 

測量結果：顆粒形貌可存盤打印，還可輸出多種格式的測試報告。另可根據行業特殊要求，設計磨料、
硅灰石等專用軟件。