天瑞X熒光貴金屬檢測儀 EDX 3000 PLUS 在測量金、銀、鉑、鈀等貴金屬含量上能到。采用25mm2大面積鈹窗探測器，可準確無誤地分析出，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量，測試結果符合標GB/T 18043-2000要求。

貴重，儀器貴。EDX 3000 PLUS閃耀的亮點在于超度、超分辨率、更清晰的攝像頭、鍵式智能操作，切讓貴金屬檢測如此簡單！

性能

超分辨率，：
采用上的SDD硅漂移探測器 ，分辨率為139±5ev ，而常規的Si-PIN探測器，分辨率為160±5eV， 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。

超度，性能優：
使用25mm2大面積鈹窗探測器，大大提樣品特征X熒光的接收能力。配合數字多道分析器術，提分析速度，總體提系統處理能力，計數率zui大可達8，比Si-PIN 6mm2探頭提了5-10倍,度提了2-4倍。

超清晰攝像頭，定位：
采用業相機，樣品圖像更加清晰，輕松實現定位。

小準直器，輕松實現小位測試：
提供多種準直器，直徑zui小達0.2mm，可輕松實現小位的測試，同時可根據測試需求電動切換準直器，使測量更加輕松更加準確。

鍵式智能式操作，省去選曲線煩惱：
FP法的整使用，只需鍵操作即可智能化自動匹配曲線，操作步到位。

XRF元素分析儀天瑞EDX，EDX2800、EDX1800B術參數

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達ppm
分析含量般為ppm到99.99％
意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應范圍為15℃至30℃
電源：交流220V±5V,建議配置交流凈化穩壓電源
能量分辨率：139±5eV

儀器配置

移動樣品平臺
SDD探測器
數字多道分析系統
低壓電源
大率X光管
計算機及噴墨打印機
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
質量：45Kg

應用域

，鉑，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測
性能

超分辨率，：
采用上的SDD硅漂移探測器 ，分辨率為139±5ev ，而常規的Si-PIN探測器，分辨率為160±5eV， 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。

超度，性能優：
使用25mm2大面積鈹窗探測器，大大提樣品特征X熒光的接收能力。配合數字多道分析器術，提分析速度，總體提系統處理能力，計數率zui大可達8，比Si-PIN 6mm2探頭提了5-10倍,度提了2-4倍。

超清晰攝像頭，定位：
采用業相機，樣品圖像更加清晰，輕松實現定位。

小準直器，輕松實現小位測試：
提供多種準直器，直徑zui小達0.2mm，可輕松實現小位的測試，同時可根據測試需求電動切換準直器，使測量更加輕松更加準確。

鍵式智能式操作，省去選曲線煩惱：
FP法的整使用，只需鍵操作即可智能化自動匹配曲線，操作步到位。