WBLE-200J電磁式薄膜測厚儀/膜厚計日本

產品/服務：WBLE-200J電磁式薄膜測厚儀/膜厚計日本
型號：WBLE-200J
單價：面議
更新日期：2018-04-17
有效期至：長期有效
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產品簡介

電磁式薄膜測厚儀/膜厚計日本型號：WBLE-200J 貨號：ZH6918 產品簡介 ...

產品詳細介紹

電磁式薄膜測厚儀/膜厚計日本
型號：WBLE-200J

貨號：ZH6918

產品簡介
　本儀器采用了磁性測厚方法，可的測量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）。內置打印機，可打印數據，有四個統計功能。
測定方法:電磁式
測定對象:磁性金屬上非磁性涂鍍層
測定范圍:0～1500um或0～60.0mils
測定精度:<15um±0.3um >15um±2%
分辨率:<100um 0.1um >100um 1um
界限設定:可設定上/下限數值
測試單位:公/英制互換
顯示方式:LCD數顯
操作面板:密封水按鍵
附屬品:鐵基體/校正標準片/電池/皮套/說明書
電源:DV3V 主機5#堿性電池×6個打印機5#堿性電池×4個
體積:80(W)×80(D)×30(H)
重量:1100g
www.ghitest.com
www.centrwin.com

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