JKZC-YDZK50M型1000℃高溫精密阻抗分析儀是一款兼容高溫功能的精密阻抗分析儀，是一款能夠應(yīng)用于先進(jìn)材料測(cè)試的多功能復(fù)合型精密阻抗分析儀，該阻抗分析儀可以兼容多種高溫夾具，可以測(cè)試粉末，液體，塊體等多種不同類型的樣品。常溫下測(cè)試數(shù)據(jù)豐富，高溫下測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定，無(wú)漂移。是一款兼顧中高端頻率的精密阻抗分析儀。在

北京中芯云科儀器有限公司是一家主要是從事儀器設(shè)備，我們同中國(guó)科學(xué)院，北京科技大學(xué)，清華大學(xué)，上海交通大學(xué)，北京航空航天大學(xué)等建立了合作和研究中心，目前我們主要在安全控制設(shè)備，計(jì)量檢測(cè)設(shè)備，科學(xué)材料研究設(shè)備，3D打印及空間技術(shù)的研發(fā)和銷售，我們將同國(guó)內(nèi)的科研機(jī)構(gòu)和高等院校進(jìn)行廣泛的合作，服務(wù)于國(guó)內(nèi)和國(guó)外廣大客戶，我們將提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，優(yōu)質(zhì)服務(wù)，共同開拓進(jìn)取。

JKZC-YDZK50M型1000℃高溫精密阻抗分析儀

  

關(guān)鍵詞：阻抗，高溫，導(dǎo)納圖，掃描,50MHZ

 

 

     

JKZC-YDZK50M型1000℃高溫精密阻抗分析儀是一款兼容高溫功能的精密阻抗分析儀，是一款能夠應(yīng)用于先進(jìn)材料測(cè)試的多功能復(fù)合型精密阻抗分析儀，該阻抗分析儀可以兼容多種高溫夾具，可以測(cè)試粉末，液體，塊體等多種不同類型的樣品。常溫下測(cè)試數(shù)據(jù)豐富，高溫下測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定，無(wú)漂移。是一款兼顧中高端頻率的精密阻抗分析儀。在陶瓷及先進(jìn)材料生產(chǎn)中和科研院校廣泛使用。

一、主要應(yīng)用：

1、先進(jìn)材料測(cè)試：高溫及常溫介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

2、高溫及常溫?zé)o源元件測(cè)試：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。

3、高溫及常溫半導(dǎo)體元件：LED驅(qū)動(dòng)集成電路寄生參數(shù)測(cè)試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

4、高溫及常溫其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等阻抗評(píng)估

5高溫及常溫介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估

6、高溫及常溫磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估

7、高溫及常溫半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性

二、主要特點(diǎn)：

1、高溫及常溫進(jìn)行先進(jìn)材料測(cè)試阻抗各參數(shù)測(cè)試：諧振頻率Fs、反諧振頻率Fp、半功率點(diǎn)F1與F2、導(dǎo)納Gmax、靜電容C0、動(dòng)態(tài)電抗R1、動(dòng)態(tài)電容C1、動(dòng)態(tài)電感L1、自由電容CT、自由介電常數(shù)、機(jī)械品質(zhì)因素Qm、機(jī)電耦合系數(shù)Keff、Kp、K31、K33等

2、多種探頭滿足壓電陶瓷，液體，及粉末相關(guān)電學(xué)性能測(cè)試

3、高溫夾具及常溫測(cè)試裝置，設(shè)計(jì)精巧靈活，測(cè)試數(shù)據(jù)可靠

4、50MHZ高頻阻抗頻率滿足高端測(cè)試需求

5、1000攝氏度高溫條件下測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定無(wú)漂移，曲線與溫度對(duì)應(yīng)

6、軟件功能豐富，數(shù)據(jù)即讀取，方便快捷

三、主要技術(shù)參數(shù)：

1、頻率范圍：20HZ-50MHZ

2、溫度：室溫-1000℃

3、阻抗參數(shù)：諧振頻率Fs、反諧振頻率Fp、半功率點(diǎn)F1與F2、導(dǎo)納Gmax、靜電容C0、動(dòng)態(tài)電抗R1、動(dòng)態(tài)電容C1、動(dòng)態(tài)電感L1、自由電容CT、自由介電常數(shù)、機(jī)械品質(zhì)因素Qm、機(jī)電耦合系數(shù)Keff、Kp、K31、K33等

4、電極材質(zhì):鉑銥合金(樣品有無(wú)電均可以測(cè)試)同軸屏蔽層

5、上電極   直徑1.6mm球頭電極，引線帶同軸屏蔽層

6、下電極： 直徑26.8mm平面電極，引線帶同軸屏蔽層

7、保護(hù)電極：  消除寄生電容、邊界電容對(duì)測(cè)試的影響

8、電極干擾屏蔽：   電極引線帶同軸屏蔽，樣品平臺(tái)帶屏蔽罩

9、夾具升降控制：   帶程序和手動(dòng)控制，可更換夾具的電動(dòng)升降裝置

10、熱電偶:  雙探頭

11、無(wú)電極樣品尺寸 :    直徑小于40mm，厚度小于8mm

12、帶電極樣品尺寸:      直徑小于26mm，厚度小于8mm

13、軟件功能：自動(dòng)分析數(shù)據(jù)，可以分類保存，樣品和測(cè)量方案結(jié)合在一起，生成系統(tǒng)所需的實(shí)驗(yàn)方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

14、測(cè)量方案    提供靈活、豐富的測(cè)試設(shè)置功能，包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

15、接口方式：包括Keysight\WayneKerr\Tonghui等多種LCR接口，

16、外形尺寸:    L360mm*W370mm*H510mm

17、凈   重:      22KG

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