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HAAKE旋轉流變儀 Mars40&60

柜谷科技發展(上海)有限公司
會員指數: 企業認證:

價格:電議

所在地:上海

型號:

更新時間:2020-06-02

瀏覽次數:841

公司地址:上海 浦東新區 曹路鎮金海路2588號B217室

繆柳燕(女士)  

產品簡介

HAAKE旋轉流變儀 Mars40&60 H型結構,佳受力分布。H型整體鑄鋁機架,受力分布均衡,提供的穩定性。樣品產生的主要作用力和機架中的反作用力均作用于HAAKE MARS“H”機架的同一平面上,相對于標準“C”型結構來說,H型結構可有效防止法向力過高導致的測量間隙擴大。

公司簡介

柜谷科技發展(上海)有限公司專注于為科研工作者和質量控制人員提供一站式實驗室產品與配套服務,致力于成為科學服務領域的ling先者與變革者。公司通過自主研發、品牌運營、品牌代理、實驗室設計規劃方案等方式為生物醫藥、新材料、新能源、化工化學、精細化工、食品日化、分析檢測等領域的實驗室提供全方位的綜合服務,覆蓋客戶的研發準備、研發過程、研發后期、生產質控等各個階段,提供“一站式”有競爭力的產品和服務,是國內ling先的科學服務提供商。 為什么選擇我們? ? 我們的服務是什么? 我們建立“安枕無憂”的售前、售后服務體系,提供信息咨詢、技術支持和維保服務,為您的實驗室運營保駕護航。 ? 我們的優勢是什么? 我們整合全球一體化背景下的資源優勢,為您提供專業、綜合、合理的采購供應計劃,節省運營成本。產品資源豐富,擁有眾多知名品牌獨 家代理權,如: Thermo Fisher、HAAKE、WIGGENS、Hitachi、Binder、Rigaku、Picarro等。
展開

產品說明

HAAKE旋轉流變儀 Mars40&60 




多技術聯用加強材料表征

組合測量方法
流變測量法是提供樣品在特定條件下的性能信息的一種“宏觀”測量方法。材料的力學特性取決于其微觀層面的結構。為了確定流變特性形成的原因,須將流變測量與微觀測量相結合,例如采用 FTIR* 或顯微鏡法。

采用組合方法的
①制備的樣品相同  ②測量條件相同  ③實驗時間更短  ④測試結果相關性佳

RheoScope 模塊:流變學 + 光學顯微學
①流變測量與微觀結構圖像同步觀察采集  ②高度集成化 HAAKE MARS 顯微流變單元  ③流變數據和微觀圖像在同一軟件中顯示  ④在剪切作用下的分析結構變化  ⑤圖像分析軟件確定顆粒尺寸、粒徑分布以及結構分析

應用 / 樣品
①食物:脂肪、淀粉  ②聚合物:溶液、熔化物  ③制藥 / 化妝品:面霜 / 乳液  ④涂料 / 墨水:印染漿、增稠劑  ⑤石化:原油、鉆井液


固化性能:哈克流變儀配備 UV 紫外光源或者輻射對流爐 CTC 可以幫助客戶方便的研究樣品的固化過程,采用 Rheonaut 紅外 - 流變聯用模塊還可以幫助客戶在分子層面上分析樣品固化過程中發生的化學變化。



Rheonaut :流變學 + 傅里葉變換紅外光譜學
①流變測試與 FTIR 紅外光譜同步測量  ②HAAKE MARS專利集成技術  ③ ATR(衰減全反射)原理  ④剪切 / 形變作用下,分子結構變化分析  ⑤可用于熱固化 /UV 固化反應深入研究

應用 / 樣品
①食品:乳膠穩定性  ②聚合物:剪切作用下的分子取向  ③制藥:凝膠的網絡組成、蛋白質的變性  ④涂料 / 油墨:UV 和熱固化的化學反應  ⑤其他:粘合劑、膠水固化反應




RheoScope 模塊規格 Rheonaut 模塊技術規范
透鏡 光譜 與多個標準 IR 光譜儀兼容(需配置側
面接口)
顯微鏡 通過軟件控制的伺服電機進行焦點和徑向定位 測量原理 ATR 采用單反射晶體(金剛石)
鏡頭? 5x、10x、20x 和 50x DTGS(氘化三甘氨硫酸酯)檢測器
光源? 150 W,12 V,波長范圍:380 nm -750 nm MCT(碲鎘汞)檢測器,用于快速采集光譜
分辨率 1 μm (20x 鏡頭 ) 數據采集與存儲 HAAKE RheoWin軟件可集成控制 FTIR 光譜儀(針對選定的光
譜儀型號),自動同步流變數據和 FTIR 光譜數據。
景深 5 μm (20x鏡頭 )
反差光補 可通過軟件控制的伺服電機調整偏光鏡 溫度范圍
攝像機 黑白 " 漸進式 " 掃描 CCD 攝像頭,1024×768 像素,C 型接頭和 IEEE 1394(Firewire)接口。 標準版 0 - 120℃(Peltier溫控模塊)
數據采集與存儲 高溫選項 環境溫度 - 400℃(電加熱溫控模塊)
數據采集 在 HAAKE RheoWin 4 軟件中每秒®多達 30 張圖片 測量轉子 直徑高達 60 mm 的平板和錐板
存儲 按照圖片(3 種標準圖片格式:TIFF、BMP、LWF)或視頻順序(可配置的數據壓縮)。

?此組件使用標準接口,單個組件適用

®取決于所用計算機的性能參數

©取決于恒溫器

溫度范圍
標準版 -5 – 120℃©(液體溫度控制單元)
高溫選項 -5 – 300℃(電加熱溫度控制單元)
測量轉子 推薦使用拋光表面平板 / 平板和平板 / 錐板測量轉子。

HAAKE旋轉流變儀 Mars40&60 技術指標

技術參數 HAAKE MARS40 HAAKE MARS60   特點是否適用于 HAAKE MARS 40 / 60
小旋轉扭矩 CS(nNm) 20 10 CD-OSC ©
小旋轉扭矩 CR(nNm) 20 10 OSC 原始數據 / Lissajous
小振蕩扭矩 CS(nNm) 10 2 多波模式
小振蕩扭矩 CD(nNm) 10 2 擠壓和粘性試驗 / 質構分析的力度 / 速度 / 位移 是/是/是
大扭矩(mNm) 200 200 圖像采集攝像頭 標準(USB、Firewire)
扭矩分辨率(nNm) 0.1 0.1 低慣量鈦合金測量轉子 標準
馬達慣量(kmg2) 10﹣? 10﹣? 各種直徑 / 表面 / 材料的可更換下測量板 是 / 是 / 是
馬達類型 拖杯 拖杯 轉子 / 溫度模塊的快速接頭 是 / 是
軸承類型 空氣軸承:2 個經向1 個軸向 空氣軸承:2 個經向1 個軸向 轉子 / 溫度模塊識別 是 / 是
角位移分辨率(nrad) 12 12  
小旋轉速度 CS(rpm) 10﹣? 10﹣? 溫度控制模塊
小旋轉速度 CR(rpm) 10﹣? 10﹣? Peltier 平行板 -60 – 200℃
大旋轉速度(rpm) 1500(4500)? 4500 電加熱上罩 -40 – 400℃@
速度階躍間隔(ms) 10 10 液體控溫平行板 -40 – 200℃
小振蕩頻率(Hz) 10﹣? 10﹣? 電加熱平行板 -40 – 400℃
大振蕩頻率(Hz) 100 100 Peltier 同軸圓筒 -40 – 200℃
小法向力(N) 0.01 0.01 液體控溫同軸圓筒 -40 – 180℃
大法向力(N) 50 50 電加熱同軸圓筒 -20 – 300℃@
法向力分辨率(N) 0.001 0.001 輻射對流爐 -150 – 600℃
大升降行程(mm) 240 240 ? 高剪切速率選項
® 由溫度模塊決定
©實際變形控制
@使用合適的測量轉子時
間隙分辨率(μm) 0.5 0.5
小升降速度(μm/s) 0.02 0.02
大升降速度(mm/s) 20 20
低溫度(℃)® -150 -150
高溫度(℃)® 600 600
尺寸規格 W×D×H(mm) 600×600×890 600×600×890
重量(kg) 59 59


HAAKE Rheonaut 流變-紅外聯用測試單元
HAAKE  Rheonaut  流變-紅外聯用單元將HAAKE MARS 流變儀與 Nicolet  FTIR 紅外光譜儀有機地結合在-起。Rheonaut  技術中采用了衰減總反射( ATR )的測量原 理 ,所得光譜結果與樣品厚度無關。在流變儀測量過程中固定的下平臺,裝入了一個對紅外透明的晶體。根據應用的不同,可以提供不同的晶體和溫控結構 ,Peltier半導體溫控單元(-20 ~ 120   ° c  )或電加熱溫控單元(室溫 ~ 400℃)。可以選配幾組偏振片 ,完成對人射紅外光在平行和垂直軸上的手動或自動控制起偏功能。
和特點:
?在小應變振蕩( SAOS ) ,大應變振蕩模式( LAOS )或剪切模式下同步獲得樣晶紅外光譜和流變特性,在分子級結構變化分析和解釋流變性能
?制備的樣晶和外在測試條件完全相同,試驗時間大大縮短
?HAAKE MARS 專利集成技術
?內建 ATR (衰減總反射)技術的單反射晶體(金剛石)和DTGS檢測器
?廣泛應用于聚合物、化工、食品、藥品、涂料、化妝品等多個領域

HAAKE旋轉流變儀 Mars40&60 與拉曼聯用解決方案

HAAKE流變-拉曼聯用單元是流變-分子光譜聯用技術又一新的突破 ,將HAAKE MARS 流變儀與 Nicolet DXR2 系列或 iXR 拉曼光譜儀無縫連接,同步采集,深入研究樣品分子層面結構變化與宏觀性能的聯系。拉曼光譜擁有非接觸和無破壞的特點, 可對樣品進行快速分析并可與紅外光譜相互補充。在流變測量過程中固定的下部平臺,裝入整套的光學系統,可直接將激光照射在樣品上進行同步測試,并可收集拉曼顯微照片(配 備顯微拉曼附件)。此聯用單元可實現-5 ~ 300 ℃的溫度控制, 可以選配不同波長的激光光源。
?流變學數據與拉曼光譜信息直接關聯
?可以在線檢測外力作用下樣品形變數據以及形變過程分子結構、構象、取向的光譜信息
?可以同時獲得聚合物粘彈性特征與分子結構,拘象,取向等與時間關聯的光譜信息
?聯用表征技術可大大縮減測試時間


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