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價格:電議
所在地:北京
型號:SN/RTS-3
更新時間:2021-06-11
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公司地址:北京市朝陽區(qū)三間房西柳村中街
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高經(jīng)理(女士)
型號:SN/RTS-3
北京手持式四探針測試儀體積小,精度高,測量范圍寬,運用四探針原理能夠測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻。
北京手持式四探針測試儀技術(shù)參數(shù):
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測量范圍 |
電阻率:0.01~1999.9Ω.cm; |
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恒流源 |
電流量程分為100μA、1mA兩檔,兩檔電流連續(xù)可調(diào) |
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數(shù)字電壓表 |
量程及表示形式:000.00~199.99mV; 分辨力:10μV; |
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四探針探頭基本指標 |
間距:1±0.01mm; 針間緣電阻:≥1000MΩ; 機械游移率:≤0.3%; |
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四探針探頭應(yīng)用參數(shù) |
(見探頭附帶的合格證) |
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模擬電阻測量相對誤差 |
1Ω、10Ω、100Ω小于等于0.3%±1字 |
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整機測量zui大相對誤差 |
(用硅標樣片:0.01-180Ω.cm測試)≤±5% |
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整機測量標準不確定度 |
≤5% |
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外型尺寸 |
185mm(長)*90mm(寬)*30mm(高) |
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重量 |
350g |
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電源 |
鋰電池,一次充電可連續(xù)使用100小時; |
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標準使用環(huán)境 |
溫度:23±2℃; 相對濕度:≤65%; 無高頻干擾; 無強光直射 |
適用場所:
本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對半導(dǎo)體材料的電阻性能測試。
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