CIT－3000SMD能量色散X熒光分析儀

簡介:CIT-3100SMD能量色散X熒光分析儀能夠檢測從鈉到鈾的所有元素，檢測量：1ppm～99.99％

價格:面議

詳細說明:

1、性能參數及技術指標
分析元素范圍：Na-U；
元素含量分析范圍：1ppm-99.99%（采用1024道多道分析器，分析精度更高）；
采用美國航天技術的Si(PIN)半導體探測器計數，配合的數字脈沖處理技術，能量分辨率優于139eV；
測量范圍：1－40KeV；
重復性：<0.1%；穩定性：<0.01%；
高壓：5kV-40kV（激發源為進口40KV-鎢靶微型X射線管）；
管流：5μA-200μA；（可減少整機功耗和降低輻射）；
專業的穩定電源：AC220V±1%，50HZ（采用的高品質穩壓電源1000W）；
CIT-3000SMD能量色散X熒光分析儀額定功率：50W；
整機能量分辨率：150±5eV；
檢測時間：300S（一鍵完成從ROHS測試開始到鹵素測試結束）；
儀器重量：60Kg；
儀器尺寸：800（W）X560（D）X550（H）mm；
圓形樣品真空腔：直徑290mm，高80mm；
工作環境溫度：溫度0-40℃；樣品溫度＜70℃；
zui低檢出限：Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb≤2ppm,Cl≤20PPm；
工作環境相對濕度：≤99%（不結露）；
測量物質狀態：固體、粉末、液體均可測，制樣簡單；
校正方式：采用歐盟RoHS塑膠標樣校準數據；
一體化設計，性能穩定，運行可靠，高；
中英文界面設計，操作簡單，測量時間短，同時配備PC機，分析儀通過無線藍牙技術可單獨和PC進行通信測試，方便使用；
穩定的鹵素測試模式（Cl總含量和Br總含量）和的RoHS測試模式；
適用于電子產品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）檢測；
鋼鐵、鋁業、水泥、有色、玻璃、耐火材料等行業全元素的快速檢測；
專業鹵素檢測；
2、儀器硬件配置
采用進口的美國航天技術的Si（PIN）半導體探測器系列
采用獨特數字脈沖采集電路及的電源管理技術
采用進口的X光管
采用進口的專用的X光管高壓電源
采用專有金屬濾光片技術和切換技術
采用的系統控制電路和數字處理電路
采用專有的分析算法軟件模塊V2.0A
配備高清晰度攝像定位系統
配備不同孔徑尺寸的準直器四個
配備專業的鹵素測試模式和RoHS測試模式
配備Dell的Intel雙核CPU電腦（1G內存、160G硬盤）
配備Dell19”寬屏高清液晶顯示器
配備USB2.0藍牙適配器
配備的激光打印機
配備專用的制樣機
配備專用的真空泵
配備專用的測試薄膜、測試樣杯
配備專用的測試標樣一套