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價格：電議
所在地：北京
型號：RHA-TES-1305
更新時間：2017-12-12
瀏覽次數：1053
公司地址：北京市門頭溝石龍經濟開發區永安路20號石龍高科大廈
李冉(女士) 業務員
溫度計(RS-232) 型號；RHA-TES-1305
| 顯示器 | 4 1/2位液晶顯示 |
| 測量范圍 | Type K: -200～1333℃ (-328～2431℉) Type J : -200～760℃ (-328～1400℉) Type E: -200～705.3℃ (-328～1301℉) Type T: -200～400℃ (-328～752℉) |
| 準確度 | Type K: ±(0.01%rdg+0.5℃) (0～1333℃/32～2431℉) Type J : ±(0.01%rdg+0.5℃) (0～760℃/32～1400℉) Type E: ±(0.01%rdg+0.5℃) (0～705.3℃/32～1301℉) Type T: ±(0.01%rdg+0.5℃) (0～400℃/32～752℉) Type K/J/E/T: ±(0.5%rdg+1.4℃) (-200～0℃/-328～32℉) |
| 分辨率 | 0.1℃ / 0.2℉ |
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輸入保護
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60VDC/24Vrms |
| 取樣率 | 1sec / 1time |
| 電源 | 6pcs size AAA Alkaline Battery |
| 電池壽命 | about 50 hours not including printer |
| 尺寸 | 193(L)×74(W)×37(H)mm |
| 重量 | 約 365g (含電池) -1304 約 300g (含電池) -1305 |
| 附件 | 收藏盒﹑使用說明書,電池﹑2卷印表紙(1304)﹑ 窗口軟件(1305),RS-232 Cable(1305)﹑9 pin to 25pin轉換頭. |
母合金電阻率測試儀型號： RHA-JH-WSP-21
硅料分選檢驗綜合儀是我公司一款專門為拉單晶廠和多晶鑄錠廠商硅料分選、檢驗、檢測而設計研發的。它可以快速準確測量硅料的電阻率。可以檢測所有類型的硅料：母合金摻雜濟電阻率檢測可以到0.0001-199.99Ω﹡㎝，及各種碎片料、米粒料、片料，塊料，頭尾料、堝底料、邊皮料等等。
產品特點：
■電阻率測量：大屏幕清晰顯示硅料電阻率值，方便檢料工快速分選
■ 電流測量：本儀器采用芯片技術，可通過調節硅材料厚度，儀器可直接鎖定電流，使測量使用更加簡便準確，本儀器可根據需要配備測試平臺， 利用測試平臺可以測試薄片電阻率
■ 四探針：一次測量，顯示完整電阻率值。
■ 采用了獨特的恒流源技術，能夠滿足寬范圍的電阻率測試要求
推薦工作條件
■ 溫度：23±2℃
■ 濕度：60%~70%
■ 無強磁場、不與高頻設備鄰近
技術指標:
■ 高阻電阻率量程：0.01~199.99Ω﹡㎝ 低阻電阻率量程：0.0001~1.9999Ω﹡㎝
■ 高阻測量精度：到十分位（即到小數點后一位）
低阻測量精度：到千分位（即到小數點后四位）
注：低阻一般用于測量低于0.1 0Ω﹡㎝以下硅料，如母合金，高于0.1 0Ω﹡㎝一般用高阻測量。
使用方法：
接好電源線，將儀器接上220V交流電，供電，若無電則需要檢查或更換在儀器后面的電源插頭處的保險絲，規格為1A,或檢查電源線是否插好。
電阻率測量：
低阻測試：
1，面板高阻低阻切換撥動開關指向低阻方向，通過按動面板綠色按鈕，使面板數顯表小數點調到0.0000狀態，測量時顯示為電阻率值，
2，校厚：四探針針頭壓住待測樣片，根據所測硅料厚度調動按鈕至所要求厚度，
按鍵調動開關調動硅材料厚度，硅材料厚度小于3.98mm按實際厚度對照厚度調節按鈕調節，如2.18就調到218，厚度大于3.98的都調到3。98，厚度調好后直接測試即可
高阻測試：
1，面板撥動開關指向高阻方向，面板數顯表小數點調到000。00狀態，不需按動綠色按鈕。
2，校準設備：所測硅材料厚度小于3.98mm的對照標準電阻率電流修正系數表來調動儀器上方電流表，根據厚度所對應的電流系數來調節電流表，厚度大于3.98mm的電流統一調到0.6283即可。
測試四探針筆維護：
1一般情況下，更換鋼針之類，不需要拆開探頭，只需要用拔出要更換的鋼針，再重新安裝新針，如果斷針在孔內并且不拆開難以取出，必須按照以下步驟進行操作：
A先松開筆身尾部端側面的固定小螺絲，輕輕脫下尾部航空插口，保證探針頭部旋轉時同步旋轉，防止扭線斷線，短接，
B輕輕擰開探針頭子，然后小心將銅片拉出，記住七片緣片與銅片之間的位置，（四片銅片每片見夾一片緣片，兩邊的銅片外側各兩片），將斷針從銅片卡口座里取下即可，
C特別注意一定不能將銅片取下時的位置錯亂，銅片位置按照航空頭四芯1234接線綠紅黃黑的順序一字排列，并且銅片之間按照寬窄順序互相交叉排列，以免短接。
D安裝時銅片及緣片按照拆下時的排列輕輕塞進探針頭子，并先將探針頭子擰緊，再將尾部航空頭插上，并且旋緊小螺絲，
E將針裝好，注意針頭針尾方向，尖頭為探針頭部
注意事項：
1儀器操作前請您仔細閱讀使用說明書，規范操作。
2輕拿輕放，避免儀器震動，水平放置，垂直測量，
3儀器不使用時請切斷電源，連接線無需經常拔下，避免灰塵進入航空插引起短接等現象，
4探針筆測試結束，套好護套，避免人為斷針，
RHA-JH-WSP-6型半導體電阻率測試儀是專用于各種半導體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測定的設備,測定范圍:0.01-199.99歐姆厘米，是生產廠家硅料分選測試的理想工具。
1、 主要技術指標:
電源：220V交流
可測晶片直徑（zui大）Ф100mm,方形230×220mm
恒流源：電流量程為0.01～1mA連續可調，誤差≦±0.5%。
數字電壓表：量程：0.1～200mV,zui大分辨率：100μV
電阻率顯示：三位半數字顯示：小數點、性、過載、自動顯示0.01-199.99歐姆。厘米
輸入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω
測量精度：±0.1。
zui大電阻測量誤差（按JJG508-87進行）：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%讀數±2個字。
重摻檢測誤差（JJG508-87進行）：1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1%
測量環境：溫度23±2℃，相對濕度≤65%
2、操作程序：
1、先連好電源，打開后面板電源開關，電源指示燈亮，表示待機完畢。
2、校準設備：厚度小于3.98mm取與要備測試硅材料厚度相同的硅材料標準樣塊校準電阻率測試儀，測試厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的任一標準樣塊校準電阻率測試儀
3、測試：用四探針接觸硅材料，以探針壓下三分之二為準，待儀器顯示數字穩定即可，
4校驗：在測試過程中要求2小時用標準樣塊校準一次設備，
3、 針組件;維護及注意事項:
1、一般情況下,除了信號傳輸線的斷裂引起的故障外, 針的維護主要包括針頭的更換和針頭的清理清潔工作
2、維護后的安裝及維護過程中,必須注意安裝過程中的排線位置,按綠紅黃黑（1234）位置排列。
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