無油無水靜音空壓機/用無油靜音空壓機 型號：HQWWJ-60電壓Volt/Hz ：220/50率Kw：0.55容積流量L/min(0.8Mpa)：40zui壓力M

公司主營不銹鋼采水器，罐底焊縫真空檢測盒，八級空氣微生物采樣器，涂層測厚儀，土壤粉碎機，腐蝕率儀，凝固點測試儀，水質檢測儀，涂層測厚儀，涂層測厚儀，土壤粉碎機，數顯式溫度計，氣體采樣泵，水質檢測儀，PM2.5測試儀，牛奶體細胞檢測儀，氦氣濃度檢測儀，土壤水分電導率測試儀，場強儀，毛細吸水時間測定儀，氧化還原電位計 測振儀，一氧化碳二氧化碳檢測儀，黏泥含量測試儀，自動電位滴定儀，便攜式測溫儀，干簧管測試儀，電導率儀，水質分析儀，土壤氧化還原電位計，數字測溫儀，便攜式總磷測試儀，腐蝕率儀，余氯檢測儀，顆粒強度測試儀，高斯計，自動涂膜機，雨量計，四合一氣體分析儀，溶解氧儀，薄層鋪板器，溫度記錄儀，動覺方位儀，菌落計數器，雨量計，毛細吸水時間測定儀，污泥比組測試儀，大氣采樣器，流速儀，體積電阻率測試儀，照度計，涂布機，老化儀。

北京恒奧德儀器儀表有限公司

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2.手持式四探針測試儀/四探針檢測儀 型號:HAD-3

概述
HAD-3型手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美 A.S.T.HAD 標準。
儀器成套組成：由HAD-3主機、選配的四探針探頭等二分組成，也可加配測試臺。
儀器所有參數設定、能轉換采用輕觸按鍵輸入；具有零位、滿度自校能；手動/自動轉換量程可選；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電，適合手持式變動場合操作使用！
探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配專用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
詳見《四探針探頭特點與選型參考》點擊入
儀器具有測量度、靈敏度、穩定性好、智能化程度、結構緊湊、使用簡便等特點。
儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的手持式導電性能的測試。
三、基本術參數
1. 測量范圍、分辨率
電 阻： 0.010 ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ～ 10 Ω
電 阻 率： 0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD
方塊電阻： 0.050～ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可測材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配測試臺則由選配測試臺決定如下：
直 徑：HADT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130HADHAD。
HADT-C方測試臺直接測試方式180HADHAD×180HADHAD。
長()度：測試臺直接測試方式 H≤100HADHAD。.
測量方位: 軸向、徑向均可.

量程劃分及誤差等

量程（Ω-cm/□）	2.000	20.00	200.0	2.000k	20.00k
電阻測試范圍	0.010～2.200	2.000～22.00	20.00～220.0	0.200～2.200k	2.000～50.00k
電阻率/方阻	0.010/0.050～2.200	2.000～22.00	20.00～220.0	0.200～2.200k	2.000～20.00k/100.0k
基本誤差	±1%FSB±2LSB			±2%FSB±2LSB

4) 適配器作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W，或電池供電

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

凈 重：≤0.3kg








3.多能數字式四探針測試儀/臺式四探針電阻率測試儀 型號:HAD-2258C

概述
HAD-2258C型多能數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標準。
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等分組成。
主機主要由恒流源、分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成。儀器所有參數設定、能轉換采用數字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校能；電壓電流自動轉換量程；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀特贈設測試結果分類能，zui大分類10類。
探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻行測量。配專用探頭，也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺選配：般四探針法測試電阻率/方阻配HAD-T-A或HAD-T-B或HAD-T-C或HAD-T-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選HAD-T-K型測試臺，也可選配HAD-T-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配HAD-T-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》
儀器具有測量度、靈敏度、穩定性好、智能化程度、結構緊湊、使用簡便等特點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本術參數
1. 測量范圍、分辨率（括號內為可向下拓展1個數量）
電 阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
電 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方塊電阻：50.0×10-6 ～ 900.0×103 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103 Ω/□
（5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)
直 徑： HAD-T-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HAD-T-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長()度： 測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向、徑向均可

量程劃分及誤差等

滿度顯示	200.0	20.00	2.000	200.0	20.00	2.000	200.0	20.00	2.000
常規量程	kΩ-cm/□	kΩ-cm/□		Ω-cm/□			mΩ-cm/□		---
zui大拓展量程	---	kΩ-cm/□		Ω-cm/□			mΩ-cm/□		mΩ-cm/□
基本誤差	±2%FSB ±4LSB	±1.5%FSB ±4LSB	±0.5%FSB±2LSB				±0.5%FSB ±4LSB		±1.0%FSB ±4LSB

作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,P_W≤5W

5．外形尺寸： 245mm（長）×220 mm（寬）×95mm（）

凈 重：≤1.5～2.0kg

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