JK-SEM1900型原位冷熱臺
JK-SEM1900型原位冷熱臺是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標準樣品臺上（無需改造電鏡內部），提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實現對冷熱臺上的樣品進行控溫，穩定后溫控精度高可達±0.1℃ 可實現樣品變溫測試的溫度范圍：-185~50℃ / -185~200℃，滿足原位高低溫材料相變微觀表征。SEM原位冷熱臺適合于各種樣品在掃描電子顯微鏡中進行高低溫結構研究，固定在現有樣品臺上。支持在現有各種掃描電子顯微鏡（蔡司、日立等）適配。
產品特點：
電熱、液氮可實現快速升降溫
可增加試樣溫度監測溫度傳感器
溫控精度高±0.1℃，可編程階梯控溫
溫控范圍寬（-185~50℃ / -185~200℃）
可以在較大的電子束流下獲得高質量圖像
可適配SEM定制樣品架，安裝/拆卸過程簡單
制冷完成測試后可快速（60℃/min）升溫達到室溫，正常換樣品，測試效率高。
產品應用：
產品詳細參數一覽表：
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SEM原位冷熱臺 |
JK-CH200190S |
JK-H600S |
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溫控模塊 |
冷熱方式 |
液氮致冷，電阻加熱 |
電阻加熱 |
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溫控范圍 |
-190～200℃ * |
RT~600℃ * |
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溫度穩定性 |
±0.1 |
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溫度分辨率 |
0.1℃ |
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升降溫速率 |
0~30℃/min（可定點 / 程序段控溫） |
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溫控方式 |
PID |
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溫度傳感器 |
熱電偶 |
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結構特性 |
樣品臺尺寸 |
23x23mm * |
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樣品臺材質 |
銅質 * |
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外形尺寸 |
75x75x23mm * |
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整體重量 |
0.28KG |
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基本配置 |
SEM原位冷熱臺x1、溫度控制器x1、致冷控制器x1（低溫配置）、液氮罐x1（低溫配置）、定制連接法蘭x1、溫控軟件x1、循環水系統x1、連接管路若干 |
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選配 |
電腦主機/安裝支架/定制控制軟件 |
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備注 |
以上均為默認參數 * 為可定制項 |
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其他可選型號 |
按需求進行配置 |
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