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MIE氏散射理論實驗及在激光粒度分析技術應用的研究
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詳細介紹
摘要： Mie理論是對處于均勻介質中的各向均勻同性的單個介質球在單色平行光照射下的Maxwell方程邊界條件的嚴格數學解，它是目前光學顆粒測試技術(尤其是激光粒度儀設計)采用的的主流理論。本文簡述了MIE氏光散射的相關理論。設計了一套采用光子技術測量亞微米量級顆粒散射信息的實驗系統。在這套系統中通過計算分析，確定了樣品池的合理入射角，并合理地設計探測角度。此外，提出了“虛光源”的概念并討論了在實驗中的應用。運用該實驗系統分別對0.13um和0.3um兩種粒徑的顆粒進行了測量，在考慮樣品池鏡面反射及透射率的情況下，對所測原始數據進行處理，并與理論模擬結果進行了比較，該實驗系統所得到的結果與理論模擬結果有非常好的一致性，且該試驗系統能夠很好地測量小顆粒后向散射信息。因為后向散射信息是區分小顆粒粒度分布的重要信息，所以該實驗系統對小顆粒有較高的分辨率。并在此基礎上提出新一代亞微米顆粒粒度分析儀的設計構想。
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