光譜橢偏儀 產(chǎn)品型號：SE400adv 簡要描述：高性能橢偏儀，針對粗糙表面硅太陽能電池的測量裝置，擁有業(yè)內(nèi)zui高測量度。技術(shù)參數(shù) ■ 膜

北京羲和陽光科技發(fā)展有限公司是一家新能源科技公司，致力于太陽能光伏產(chǎn)業(yè)。提供光伏生產(chǎn)所用硅料的分選、檢驗、檢測設(shè)備及相關(guān)設(shè)備配件，幫助您識別高質(zhì)量的硅料，減少采購或銷售的風險。
        
    我公司經(jīng)營的主要產(chǎn)品有：硅料分選測試儀（電阻率，PN型識別）、電阻測試儀、排重摻測試儀、少子壽命測試儀、測厚儀、碳氧磷硼含量測試儀，表面線痕測試儀，光譜橢偏儀，透過率測試儀、相關(guān)產(chǎn)品配件，以及鎵摻雜劑、母合金摻雜劑，異丙醇，雙氧水等耗材。

    羲和的名稱來源于中國的太陽神羲和女神，作為太陽能光伏產(chǎn)業(yè)的一份子，為提高太陽能電池生產(chǎn)過程的可控性，最大限度的減少過程風險，羲和科技在不懈追求、積極探索，我們深感肩頭的重任，我們會倍加努力，持之以恒，給您提供最優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品、最優(yōu)惠的價格和最滿意的服務(wù)。

光譜橢偏儀
產(chǎn)品型號：SE400adv
簡要描述：高性能橢偏儀，針對粗糙表面硅太陽能電池的測量裝置，擁有業(yè)內(nèi)zui高測量精確度。






技術(shù)參數(shù)
■ 膜厚范圍：0-30000nm
■ 折射指數(shù)：± 0.0001
■ 厚度準確度：± 0.01nm
■ 入射角度：20 - 90°
■ 波長范圍：250-1100nm（深紫外、近紅外、紅外可選）
■ Psi=±0.01°，Delta=±0.02°



特點
■ 光譜范圍：UV/VIS range 250 - 1100 nm，可選擴展光譜范圍NIR (700 - 1700 nm) or (700 - 2100 nm)、UV-VIS 范圍(190 - 1100 nm) ；

■ 自動旋轉(zhuǎn)起偏器可精確測量任意偏振狀態(tài)；

■ 步進掃描分析儀可高速采集低噪音信號；

■ 可變角度范圍：from 10-90°，可升級為自動變角度10-90°控制 ；

■ 單層薄膜/多層薄膜快速薄膜厚度、折射率測量；

■ 專業(yè)測試軟件可大范圍Psi和Delta數(shù)據(jù)自動測量，并對測試數(shù)據(jù)進行采集和分析，內(nèi)置幾百種材料數(shù)據(jù)庫；

■ 可擴展二維自動掃描平臺，實現(xiàn)(50X50mm, 100X100mm, 150X150mm or 200X200mm)Mapping測量功能以及3D分析；


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