性能參數(shù)

產(chǎn)品型號：EDX 4500
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

性能特點

超薄窗X光管，標(biāo)達到水平新的數(shù)字多道術(shù)，讓測試更快，計數(shù)率達到100000CPS，度更。在合金檢測中效果更好SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較的峰背比低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器作的致性信噪比的電子線路單元針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手操作帶來的繁瑣解譜術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析度多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增應(yīng)得到明顯的抑制內(nèi)置清晰攝像頭液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）目了然

標(biāo)準(zhǔn)配置

超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道術(shù)
鋼鐵行業(yè)測試專用配件
光路增強系統(tǒng)
信噪比電子線路單元
內(nèi)置清晰攝像頭
自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安保護模式
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵

應(yīng)用域

鋼鐵檢測、元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素等）