Thick800A天瑞電鍍鍍層測厚儀是由于轉(zhuǎn)移個(gè)電子入K軌道，個(gè)K軌道上的電子已事被游離，另個(gè)電子即代替他的地位，此稱之為K輻射。...

Thick800A天瑞電鍍鍍層測厚儀

電鍍鍍層檢測儀的特性
若產(chǎn)生X-射線熒光是由于轉(zhuǎn)移個(gè)電子入K軌道，個(gè)K軌道上的電子已事被游離，另個(gè)電子即代替他的地位，此稱之為K輻射。不同的能階轉(zhuǎn)換出不同的能量，如Kα輻射是電子由L軌道跳至K軌道的種輻射，而Kβ輻射是電子從M軌道跳至K軌道的種輻射，其間是有區(qū)別的。若X-射線熒光是個(gè)電子跳入L的空軌域，此種輻射稱為L輻射。同樣的L輻射可劃分為Lα輻射，此是由M軌道之電子跳入L軌道及Lβ輻射，此是由N軌道之電子跳入L軌道中。由于Kβ輻射能量約為Kα的11%，而Lβ輻射能量較Lα大約20%，所以以能量的觀點(diǎn)Lα及Lβ是很容易區(qū)分的。

鍍層檢測儀的原理 

1、對我們要了解XRF如何測量元素成分含量的： 

 個(gè)元素的成分計(jì)算公式可以簡單用下面的公式表示：F?I=C,(這里C是樣品含量，F(xiàn)是光譜中此元素比例系數(shù)，I是此元素在光譜中的激發(fā)強(qiáng)度)，標(biāo)樣中已知C(此處用百分比表示)，將此標(biāo)樣放入光譜，按著測試條件開X射線激發(fā)標(biāo)樣，此時(shí)得到個(gè)I的值，C/I=F(這樣就能計(jì)算出此元素的含量輕度比列系數(shù))。 

        之后，待測樣品放入光譜，同樣條件用X射線激發(fā)樣品，獲得待測樣品的I值，用這個(gè)I值乘以之前得到的F值，F(xiàn)?I=C 就能計(jì)算出此樣品的含量C的值，這就是XRF測量元素含量的基本原理。 

2、電鍍鍍層檢測儀膜厚原理： 

同理,Th=F?I （這里Th是厚度，單位微米或其他長度單位） 

也是用標(biāo)樣來標(biāo)定，求出此樣品的某元素鍍層厚度強(qiáng)度比F。 

測試待測樣品時(shí)，用待測樣品的鍍層元素激發(fā)的I值乘以之前得到的F值，F(xiàn)?I=Th這樣就能計(jì)算出待測樣品的此元素鍍層厚度值。

Thick800A天瑞電鍍鍍層測厚儀


Thick800A天瑞電鍍鍍層測厚儀
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