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- 產(chǎn)品/服務(wù):X射線(xiàn)電鍍膜厚檢測(cè)儀THICK800A廠家
- 品 牌:天瑞ROHS儀
- 單 價(jià):面議
- 更新日期:2026-05-11
- 有效期至:長(zhǎng)期有效
- 瀏覽次數(shù):2013
- 立即詢(xún)價(jià)
X射線(xiàn)電鍍膜厚檢測(cè)儀THICK800A廠家是專(zhuān)門(mén)針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而心設(shè)計(jì)的款端鍍層膜厚測(cè)試儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè)。金屬鍍層分析儀俗稱(chēng)X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、XRF鍍層測(cè)厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀...
儀器介紹
X射線(xiàn)電鍍膜厚檢測(cè)儀THICK800A同時(shí)可對(duì)電鍍液行分析,不單性能優(yōu)越,而且價(jià)錢(qián)超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也樣能勝.自動(dòng)XYZ樣品臺(tái),自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),十字線(xiàn)自動(dòng)調(diào)整./開(kāi)放式的樣品臺(tái),可測(cè)量較大的產(chǎn)品,是線(xiàn)路板,五金電鍍,飾,端子等行業(yè)的,可測(cè)量各類(lèi)金屬層、合金電鍍厚度。
X射線(xiàn)電鍍膜厚檢測(cè)儀THICK800A廠家
作原理
X射線(xiàn)光譜方法測(cè)定金屬鍍層厚度是基于束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線(xiàn)與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長(zhǎng)和能量的二次輻射,這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量(若密度已知,則為覆蓋層線(xiàn)性厚度)和二次輻射強(qiáng)度之間存在定的關(guān)系。該關(guān)系由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知,同時(shí)又給出實(shí)際的密度,則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線(xiàn)性厚度。
術(shù)標(biāo)
型號(hào):THICK800A
分析范圍: Ti-U,可分析3層15個(gè)元素
分析厚度:般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)
作電壓:AC 110V/220V(建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源)
測(cè)量時(shí)間:40秒(可根據(jù)實(shí)際情況調(diào)整)
探測(cè)器分辨率:(160±5)eV
光管壓:5-50kV
管流:50μA-1000μA
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境濕度:30%-70%
準(zhǔn)直器:配置不同直徑準(zhǔn)直孔,*小孔徑φ0.2mm
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度般在50μm以?xún)?nèi)(每種材料有所不同)
意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線(xiàn)性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
X射線(xiàn)電鍍膜厚檢測(cè)儀THICK800A廠家
廠家介紹
X熒光測(cè)厚儀生產(chǎn)生產(chǎn)廠家——江蘇天瑞儀器股份有限公司,新款Thick 8000X熒光測(cè)厚儀是專(zhuān)門(mén)針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而心設(shè)計(jì)的款端鍍層膜厚測(cè)試儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定;、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè)。金屬鍍層分析儀俗稱(chēng)X射線(xiàn)熒光測(cè)厚儀、鍍層測(cè)厚儀、膜厚儀、XRF鍍層測(cè)厚儀、膜厚測(cè)試儀、金鎳厚測(cè)試儀、電鍍膜厚儀等,主要用于測(cè)量金屬電鍍層的厚度。能:測(cè)量金屬電鍍層的厚度;應(yīng)用范圍:測(cè)量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成。
測(cè)量范圍從22(Ti)到92(U);5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測(cè)試方法符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987
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