[關于鍍層測厚儀您需要掌握的些知識要點] 鍍層測厚儀采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測涂層作經濟地行。隨著科學術的日益步，特別是近年來引入微機術后，采用磁性法測量涂層和渦流法的測厚儀向微型、智能、多能、、實用化的方向了步。測量的分辨率已達0.1微米，度可達到1%，有了大幅度的提。鍍層測厚儀適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是業(yè)和科研使用蕞廣泛的涂層測厚儀器。
    涂層和覆層厚度測量已成為加業(yè)、表面程質量檢測的重要環(huán)，是產品達到優(yōu)等質量標準的備手段。為使產品化，我出口商品和涉外項目中，對涂層覆層厚度測量有了明確的要求和規(guī)定。
涂層覆層厚度的測量方法主要有：楔切法涂層測量，光截法涂層測量，電解法涂層測量，厚度差測量法，稱重法涂層測量，X射線熒光法涂層測量，β射線反向散射法涂層測量，電容法涂層測量、磁性測量法涂層測量及渦流測量法涂層測量等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
    X射線和β射線法是無接觸無損測量涂層厚度，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者須遵守射線防護規(guī)范。X射線法可測薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的緣覆層涂層測厚時采用。
    影響鍍層測厚儀測量度的原因：
    (1) 覆蓋層厚度大于25m時,其誤差與覆蓋層厚度近似成正比；
    (2) 基體金屬的電導率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關； 
    (3) 何種測厚儀都要求基體金屬有個臨界厚度,只有大于這個厚度,測量才不會受基體金屬厚度的影響；
    (4) 渦流測厚儀對式樣測定存在邊緣效應,即對靠近式樣邊緣或內轉角處的測量是不可靠的；
    (5) 試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大；
    (6) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的度,粗糙度增大,影響增大；
    (7) 渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感.因此測量前應清除測頭 和覆蓋層表面的污物;測量時應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸。