天瑞鍍層測厚儀采用高度定位激光，可自動定位測試高度；定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊；鼠標(biāo)可控制移動平臺，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)；高分辨率探頭使分析結(jié)果更加；良好的射線屏蔽作用。覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必備手段。天瑞鍍層測厚儀測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。以下內(nèi)容分析影響天瑞鍍層測厚儀測試的主要因素：
1、測頭壓力：測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
2、磁場：周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。
3、試件的變形：測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
4、附著物質(zhì)：天瑞鍍層測厚儀對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
5、測頭的取向：測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。
6、基體金屬磁性質(zhì)：磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
7、基體金屬電性質(zhì)：基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。
8、曲率：試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
9、表面粗糙度：基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。
10、基體金屬厚度：每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。
11、邊緣效應(yīng)：天瑞鍍層測厚儀對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。