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當前位置:給覽網 » 供應 » 江蘇天瑞儀器股份有限公司 » 鍍層測厚儀

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公司名稱:江蘇天瑞儀器股份有限公司

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產品展示
  • EDX-T 多導毛細管鍍層膜厚儀

    產品簡介:多導毛細管鍍層膜厚儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術,研發的一款quan xin 上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片zi動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現測試部位的細節,也能呈現出gao清廣角視野;zi動化的 X/Y/Z 軸的三維移動,實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態的樣品進

    價格:面議
  • EDX-T 表面處理鍍層厚度檢測儀

    產品簡介:表面處理鍍層厚度檢測儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術,配置嵌入集成式多準直孔、濾光片zi動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現測試部位的細節,也能呈現出gao清廣角視野;zi動化的 X/Y/Z 軸的三維移動,實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態的樣品進行快速對焦jing準分析。

    價格:面議
  • EDX2000A X熒光鍍層測厚儀

    產品簡介:X熒光鍍層測厚儀是一款上照式膜厚測試儀。相比于傳統的鍍層測厚設備,不僅在常規的傳統電鍍上表現geng加顯現,geng能hen好地滿足半導體、芯片及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。儀器外觀簡潔大方,通過自動化的X軸丫軸Z軸的三維移動,雙激光定位和保護系統,實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形

    價格:面議
  • EDX600plus 無損鍍層厚度測厚儀

    產品簡介:無損鍍層厚度測厚儀針對多鍍層與復雜合金鍍層的測量,在準直器的選擇上,無損鍍層厚度測厚儀它可以搭配的準直器geng小:0.1*0.3mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm;φ0.5mm 等等。

    價格:面議
  • EDX600PLUS 膜厚測試儀

    產品簡介:膜厚測試儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗,zhuan門研發的下照式結構的鍍層測厚儀。

    價格:面議
  • EDX-V 微小部件鍍層測厚儀

    產品簡介:微小部件鍍層測厚儀通過X 射線熒光qiang度測量鍍膜厚度的方法有檢量線法和基本參數法(FP 法)。晶圓微區鍍層厚度測厚儀可在不損壞樣品的情況下進行非接觸式測量。而且測量時間較短, 僅為3-20s。

    價格:面議
  • EDX-T 螺絲表面鍍層厚度測厚儀

    產品簡介:螺絲表面鍍層厚度測厚儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術,配置嵌入集成式多準直孔、濾光片zi動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現測試部位的細節,也能呈現出gao清廣角視野;zi動化的 X/Y/Z 軸的三維移動,實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態的樣品進行快速對焦jing準分析。

    價格:面議
  • EDX600PLUS 天瑞儀器光譜膜厚儀

    產品簡介:天瑞儀器光譜膜厚儀EDX 600 PLUS是天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗,zhuan 門研發的一款下照式結構的鍍層測厚儀。測量方便快捷,無需液氮,無需樣品前處理。

    價格:面議
  • EDX600plus 歡迎來電咨詢鍍層厚度膜厚儀

    產品簡介:歡迎來電咨詢鍍層厚度膜厚儀是天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗,zhuan門研發的一款下照式結構的鍍層測厚儀。

    價格:面議
  • EDX600PLUS 膜厚儀

    產品簡介:膜厚儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗,zhuan門研發的下照式結構的鍍層測厚儀。

    價格:面議
  • EDX2000A 線路板鍍層測厚儀

    產品簡介:線路板鍍層測厚儀采用jinkougao分辨率的FAST SDD探測器,高達140ev分辨率,能準確地解析每個元素的特征信號,針對復雜底材以及多層復雜鍍層,youshijuda。Jinkou的gao功率da高壓單元搭配jinkou大功率X光管,能hen好的保障信號輸出與激發的穩定性。Gao準確度自動化的X軸,Y軸以及Z軸的三維聯動,更準確地完成對弧形、拱形

    價格:面議
  • EDX600plus X射線熒光鍍層測厚儀

    產品簡介:X射線熒光鍍層測厚儀搭配gao分辨率可變焦攝像頭,配合gao性能距離補正算法,實現了對不規則樣品(如凹凸面,拱形,螺紋,曲面等)的異型測試面的jing準測試。

    價格:面議
  • EDX-T 晶圓硅鍍金鎳厚度測厚儀

    產品簡介:晶圓硅鍍金鎳厚度測厚儀是一款上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片zi動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現測試部位的細節,也能呈現出gao清廣角視野;zi動化的 X/Y/Z 軸的三維移動,實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態的樣品進行快速對焦jing準分析。

    價格:面議
  • EDX-V 晶圓微區鍍層厚度測厚儀

    產品簡介:晶圓微區鍍層厚度測厚儀通過X 射線熒光qiang度測量鍍膜厚度的方法有檢量線法和基本參數法(FP 法)。晶圓微區鍍層厚度測厚儀可在不損壞樣品的情況下進行非接觸式測量。而且測量時間較短, 僅為3-20s。

    價格:面議
  • EDX2000A 電鍍凹凸面鍍層厚度測厚儀

    產品簡介:電鍍凹凸面鍍層厚度測厚儀采用jinkougao分辨率的FAST SDD探測器,高達140ev分辨率,能準確地解析每個元素的特征信號,針對復雜底材以及多層復雜鍍層,youshijuda。Jinkou的gao功率da高壓單元搭配jinkou大功率X光管,能hen好的保障信號輸出與激發的穩定性。Gao準確度自動化的X軸,Y軸以及Z軸的三維聯動,更準確地完成對弧形

    價格:面議
  • EDX2000A 微小樣品鍍層厚度檢測儀

    產品簡介:微小樣品鍍層厚度檢測儀是一款上照式膜厚測試儀,能hen好地滿足半導體、芯片、電子電路及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。儀器外觀簡潔大方,通過自動化的X軸丫軸Z軸的三維移動,雙激光定位和保護系統,實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行kuaisu對焦準確分析。

    價格:面議