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公司名稱:江蘇天瑞儀器股份有限公司

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產品展示
  • 智能EDX1800E 半導體行業ROHS指令分析儀

    產品簡介:半導體行業ROHS指令分析儀配置高性能檢測系統,一體機式設計、一鍵測試功能,Quan zi動進樣機械臂(選配)

    價格:面議
  • ICP2060T 玩具材料中八大重金屬元素含量測定儀

    產品簡介:玩具材料中八大重金屬元素含量測定儀ICP 2060T單道掃描電感耦合等離子體發射光譜儀用于 測定各種物質(可溶解于鹽酸、硝酸、氫氪酸等)中的常量、微量、痕量元素的含量。

    價格:面議
  • EDX600plus 鎳合金鍍層測厚儀

    產品簡介:鎳合金鍍層測厚儀針對多鍍層與復雜合金鍍層的測量,在準直器的選擇上,無損鍍層厚度測厚儀它可以搭配的準直器geng小:0.1*0.3mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm;φ0.5mm 等等。

    價格:面議
  • EDX1800B ROHS標準六項有害物質分析儀

    產品簡介:ROHS標準六項有害物質分析儀光管有著良好的屏蔽作用, X射線的輻射水平與普通大氣環境狀態下相等,性能穩定可實現較好測試效率,儀器上蓋的測試自鎖和高壓電源緊急鎖功能,帶給您全方位防護。

    價格:面議
  • ICP-MS 2000E 牙膏中10種元素含量檢測儀

    產品簡介:牙膏中10種元素含量檢測儀采用PRC碰撞反應池技術,有效消除多原子離子干擾,該款儀器具有靈敏度 gao 、檢出限 di 、wen 定性好等特點。

    價格:面議
  • EDX-T 晶圓硅鍍鎳銀厚度膜厚儀

    產品簡介:晶圓硅鍍鎳銀厚度膜厚儀是一款上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準直孔、濾光片zi動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現測試部位的細節,也能呈現出gao清廣角視野;zi動化的 X/Y/Z 軸的三維移動,實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態的樣品進行快速對焦jing準分析。

    價格:面議
  • EDX-V 印刷線路板鍍層厚度測量儀

    產品簡介:印刷線路板鍍層厚度測量儀通過X 射線熒光qiang度測量鍍膜厚度的方法有檢量線法和基本參數法(FP 法)。晶圓微區鍍層厚度測厚儀可在不損壞樣品的情況下進行非接觸式測量。而且測量時間較短, 僅為3-20s。

    價格:面議
  • GCMS6800 PBDEs和PBBs有機物檢測儀

    產品簡介:PBDEs和PBBs有機物檢測儀用于有機物的檢測,是揮發性和半揮發性定性定量分析測試的常見方法,廣泛應用于各種有機 du 害物的殘留分析項目,具有檢出限較低,定性能力較強,定量結果準確等特點,可有效地應用于zhong guo RoHS 2.0中多溴聯苯和多溴二苯醚的定性和定量分析。

    價格:面議
  • EDX600PLUS 膜厚儀

    產品簡介:膜厚儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗,zhuan門研發的下照式結構的鍍層測厚儀。

    價格:面議
  • EDX600PLUS 膜厚測試儀

    產品簡介:膜厚測試儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗,zhuan門研發的下照式結構的鍍層測厚儀。

    價格:面議
  • EDX600PLUS 天瑞儀器光譜膜厚儀

    產品簡介:天瑞儀器光譜膜厚儀EDX 600 PLUS是天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗,zhuan 門研發的一款下照式結構的鍍層測厚儀。測量方便快捷,無需液氮,無需樣品前處理。

    價格:面議
  • EDX-T 金手指產品鍍層厚度膜厚儀

    產品簡介:金手指產品鍍層厚度膜厚儀是天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測量技術,配置嵌入集成式多準直孔、濾光片zi動切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現測試部位的細節,也能呈現出gao清廣角視野;zi動化的 X/Y/Z 軸的三維移動,實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態的樣品進行快速對焦jing準分析。

    價格:面議
  • EDX600plus 歡迎來電咨詢鍍層厚度膜厚儀

    產品簡介:歡迎來電咨詢鍍層厚度膜厚儀是天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗,zhuan門研發的一款下照式結構的鍍層測厚儀。

    價格:面議
  • EDX600plus 無損鍍層厚度測厚儀

    產品簡介:無損鍍層厚度測厚儀針對多鍍層與復雜合金鍍層的測量,在準直器的選擇上,無損鍍層厚度測厚儀它可以搭配的準直器geng小:0.1*0.3mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm;φ0.5mm 等等。

    價格:面議
  • EDX-V 微小部件鍍層測厚儀

    產品簡介:微小部件鍍層測厚儀通過X 射線熒光qiang度測量鍍膜厚度的方法有檢量線法和基本參數法(FP 法)。晶圓微區鍍層厚度測厚儀可在不損壞樣品的情況下進行非接觸式測量。而且測量時間較短, 僅為3-20s。

    價格:面議
  • WDX400 轉爐渣成分波長色散X熒光檢測儀

    產品簡介:轉爐渣成分波長色散X熒光檢測儀特點:粉體樣品或塊樣品kuaisu,非破損分析。可kuaisu分析粉末壓片,玻璃熔片和塊狀物料。采用多路數字MCA 實時檢測,較好的tigao元素檢測效率譜峰,不僅便于儀器調試和故障診斷, 并可jinyibu提gao儀器的分析jingdu和wending性。

    價格:面議