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供應(yīng)產(chǎn)品
| 圖片 | 標(biāo) 題 | 更新時(shí)間 |
|---|---|---|
| FT340 雙電測(cè)方阻電阻率測(cè)試儀 雙電測(cè)方阻電阻率測(cè)試儀,本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法,適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具 FT340雙電測(cè)試四探針方阻電阻率測(cè)試儀 |
2024-08-19 | |
| 方塊電阻測(cè)試儀 方塊電阻測(cè)試儀該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量 方塊電阻測(cè)試儀 |
2024-08-19 | |
| FT-334 四探針方阻電阻率測(cè)試儀 四探針電阻率測(cè)試,單電方阻電阻率測(cè)試儀,本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口,本機(jī)結(jié)合采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差,比市場(chǎng)上其 |
2024-08-19 |
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