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齒厚卡尺綜合誤差檢具說明書
發布時間：2024-08-02瀏覽次數：824返回列表
齒厚卡尺綜合誤差檢具
使用說明
一、用途：對齒厚卡尺的綜合誤差進行檢定。
二、主要技術參數
1、外形尺寸（表1）：
|
測量范圍（mm） |
圓柱直徑（mm） |
|
|
個 |
第二個 |
|
|
M1～16 M2～16 |
φ5x40 |
φ18x50 |
|
M5～36 |
φ12x50 |
φ35x50 |
表1
2、測量范圍：（見表1）
3、直徑偏差＜±0.002毫米
4、表面光潔度不低于10
三、檢定方法：
1、根據表1選定相應的尺寸進行檢測。
2、弦長S及相應弦高h按下式計算：
S=d*Soca0
h=d*（1-Sina0）2
（S值和h值均應取至小數點后第二位）式中：S—弦長（毫米），h—弦高（毫米），d—圓柱直徑（毫米），a0—基本齒形角（度）。
為了讀數方便，可將h值的小數點后第二位變為偶數，然后按新的h值帶入下式求出S值：
S=2dh-h2
……（3）
3、檢定時，先將弦高按預先計算好的h值定好，然后測量弦長S，實測S值與理論S值之差即為綜合誤差。
|
圓柱直徑（毫米） （d） |
弦高（毫米） （h） |
理論S值 （S） |
|
φ5 |
1.645 |
4.699 |
|
φ12 |
3.948 |
11.276 |
|
φ18 |
5.922 |
16.915 |
|
φ35 |
11.515 |
32.890 |
注：本表為基本齒形角a0=Sin200
時h和S的相應理論值。
